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      · Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
    產(chǎn)品簡介:     Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術(shù)解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量,是一
    更新時(shí)間: 2025-02-27
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